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泰納克實驗設備發(fā)生故障的原因一般可歸納為以下3類：
?。?/font>1）儀器設備外部因素不正常所引起的故障；
?。?/font>2）人為的操作使用過程不當引起的故障；
（3）儀器設備自身內(nèi)部某些元件質(zhì)量缺陷引起的故障。
泰納克實驗設備外部因素不正常引起的設備故障這類故障主要由于實驗室環(huán)境溫度、濕度不適宜，供電電壓不穩(wěn)，外部電磁場以及儀器受震動而引起的。在溫度過高、濕度過大、通風不良等環(huán)境條件下，設備運行過程中某些元件會過熱，甚至燒毀，電路板會氧化、遭腐蝕損壞，電路短路以及導電性灰塵吸潮也能夠直接燒壞元件。操作不當或麻痹大意引起故障如果操作者在實驗過程中操作不當，致使一些液體流入儀器內(nèi)部的電路板或元件上，會發(fā)生化學腐蝕和電化學腐蝕，使儀器受損。有的儀器設備在開機后須預熱一段時間方可使用，而有的儀器設備在開機后須按要求進行調(diào)整、校正參數(shù)才能使用。如果儀器發(fā)生故障前的征兆沒能引起使用者注意，極有可能造成儀器損壞。這些人為操作不當出現(xiàn)的故障應引起管理者足夠重視。儀器設備質(zhì)量問題引起的故障碳膜電位器，多圈電位器或機械零部件因磨損、氧化或接觸不良能夠造成儀器設備的故障；儀器設備所使用的元器件性能不佳，例如，半導體器件、集成電路、電阻、電容等性能不穩(wěn)定也會引發(fā)故障；
王經(jīng)理
18695992058
毛經(jīng)理
13598458623
